Total internal reflection microscopy with a multilayered interface: a light scattering model based on a discrete sources method

• Autores: E. Eremina, N. Grishina
• Localización: Journal of optics A: Pure and applied optics, ISSN 1464-4258, Nº. 11, 2006, págs. 999-1006
• Idioma: inglés
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