Hydrogen in MOSFETs ¿ A primary agent of reliability issues.

• Autores: S.T. Pantelides, L. Tsetseris, S.N. Rashkeev, X.J. Zhou, D.M. Fleetwood, R.D. Schrimpf
• Localización: Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 6, 2007, págs. 903-912
• Idioma: inglés
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