Failure modes on low voltage power MOSFETs under high temperature application.

• Autores: L. Dupont, S. Lefebvre, M. Bouaroudj, Z. Khatir, J.C. Faugières
• Localización: Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 9-11, 2007, págs. 1767-1772
• Idioma: inglés
• Texto completo no disponible (Saber más ...)