High-temperature performance of state-of-the-art triple-gate transistors.

• Autores: K. Akarvardar, A. Mercha, E. Simoen, V. Subramanian, C. Claeys, P. Gentil, S. Cristoloveanu
• Localización: Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 12, 2007, págs. 2065-2069
• Idioma: inglés
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