Automatic inspection of the width and gap of etching transistors in TFT-LCD panels using sub-pixel accuracy estimation.

• Autores: C.-S. Lin, C.-W. Tsai, Y.-C. Lu, C. Tsou, S.-C. Chang
• Localización: International journal of advanced manufacturing technology, ISSN 0268-3768, Vol. 35, Nº. 1-2, 2007, págs. 127-134
• Idioma: inglés
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