Modeling electrostatic force microscopy for conductive and dielectric samples using the boundary element method.

• Autores: Y. Shen, D.M. Barnett, P.M. Pinsky
• Localización: Engineering analysis with boundary elements, ISSN 0955-7997, Vol. 32, Nº. 8, 2008, págs. 682-691
• Idioma: inglés
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