A fast mechanical test technique for life time estimation of micro-joints.

• Autores: G. Khatibi, W. Wroczewski, B. Weiss, T. Licht
• Localización: Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 48, Nº. 11-12, 2008, págs. 1822-1830
• Idioma: inglés
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