Model for life prediction of fatigue�creep interaction.

• Autores: R. Valentín, D. Barker, M. Osterman
• Localización: Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 48, Nº. 11-12, 2008, págs. 1831-1836
• Idioma: inglés
• Texto completo no disponible (Saber más ...)