A simple estimation of transverse response of high-g accelerometers by a free-drop-bar method.

• Autores: H. Bao, Z. Song, D. Lu, X. Li
• Localización: Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 49, Nº. 1, 2009, págs. 66-73
• Idioma: inglés
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