NIST-NPL comparison of mid-infrared regular transmittance and reflectance

• Autores: C. J. Chunnilall, F. J. J. Clarke, M. P. Smart, L. M. Hanssen, S. G. Kaplan
• Localización: Metrologia: International journal of scientific metrology, ISSN 0026-1394, Vol. 40, Nº 1, 2003 (Ejemplar dedicado a: 8th International Conference on New Developments in Optical Radiometry, Newrad 2002 NIST, Gaithersburg, MD, USA), págs. 55-59
• Idioma: inglés
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