Evolutionary derivation of optimal test sets for neural network based analog and mixed signal circuits fault diagnosis approach.

• Autores: S.J. Seyyed Mahdavi, K. Mohammadi
• Localización: Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 49, Nº. 2, 2009, págs. 199-208
• Idioma: inglés
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