A plug-and-play wideband RF circuit ESD protection methodology: T-diodes.

• Autores: D. Linten, S. Thijs, J. Borremans, M. Dehan, D. Trémouilles, M. Scholz, M.I. Natarajan, P. Wambacq, S. Decoutere, G. Groeseneken
• Localización: Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 49, Nº. 12, 2009, págs. 1440-1446
• Idioma: inglés
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