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Bayesian Reliability, Availability, and Maintainability Analysis for Hardware Systems Described Through Continuous Time Markov Chains
Autores:
Javier Cano
,
Javier Martínez Moguerza
,
David Ríos Insua
Localización:
Technometrics: A journal of statistics for the physical, chemical and engineering sciences
,
ISSN
0040-1706,
Vol. 52, Nº. 3, 2010
,
págs.
324-334
Idioma:
inglés
Texto completo no disponible
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