Conditions for Measuring Nonlinear Refractive Index n~2 by SPM Based cw Dual-Frequency Method

• Autores: K. Nakajima, T. Omae, M. Ohashi
• Localización: IEICE transactions on communications, ISSN 0916-8516, Vol. 84, Nº 12, 2001, págs. 3278-3280
• Idioma: inglés
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