Spatio-Temporal Gradient Analysis for Detecting Defects

• Autores: Kenbu Teramoto, Kohsuke Ysuruta
• Localización: IEICE transactions on fundamentals of electronics, communications and computer, ISSN 0916-8508, Vol. 87, Nº 8, 2004, págs. 2037-2044
• Idioma: inglés
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