A Selective Scan Chain Reconfiguration through Run-Length Coding for Test Data Compression and Scan Power Reduction

• Autores: Youhua Shi
• Localización: IEICE transactions on fundamentals of electronics, communications and computer, ISSN 0916-8508, Vol. 87, Nº 12, 2004, págs. 3208-3215
• Idioma: inglés
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