Verification of Scalable-Delay-Insensitive Asynchronous Circuits

• Autores: A. Yamazaki, H. Ryu, Tae Yoneda
• Localización: IEICE transactions on information and systems, ISSN 0916-8532, Vol. 82, Nº 3, 1999, págs. 701-703
• Idioma: inglés
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