A APICE-Oriented Nonexistence Test for DC Solutions of Nonlinear Circuits

• Autores: Wataru Kuroki, Kiyotaka Yamamura
• Localización: IEICE transactions on fundamentals of electronics, communications and computer, ISSN 0916-8508, Vol. 90, Nº 8, 2007, págs. 1661-1668
• Idioma: inglés
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