Energy Level Alignment and Band Bending at TPD/Metal Interfaces Studied by Kelvin Probe Method

• Autores: Y. Ouchi, K. Seki, N. Hayashi, E. Ito, H. Ishii
• Localización: IEICE transactions on electronics, ISSN 0916-8524, Vol. 83, Nº 7, 2000, págs. 1009-1011
• Idioma: inglés
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