Characterization of YBa~2Cu~3O~7~-~x Co-planar Josephson Junctions Using Focused Ion Beam

• Autores: Y. Soutome, H. Shiga, Y. Okabe
• Localización: IEICE transactions on electronics, ISSN 0916-8524, Vol. 81, Nº 10, 1998, págs. 1538-1543
• Idioma: inglés
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