Electron-Beam-Damaged YBa~2Cu~3O~7~-~y Josephson Junctions for High-Frequency Device Applications

• Autores: S. J. Kim, T. Yamashita
• Localización: IEICE transactions on electronics, ISSN 0916-8524, Vol. 81, Nº 10, 1998, págs. 1544-1548
• Idioma: inglés
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