Worst/Best Device and Circuit Performances for MOSFETs Determined from Process Fluctuations

• Autores: O. Prigge, M. Suetake, M. Miura Mattausch
• Localización: IEICE transactions on electronics, ISSN 0916-8524, Vol. 82, Nº 6, 1999, págs. 997-1002
• Idioma: inglés
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