High-Resolution Beam Profiler for Engineering Laterally-Grown Grain Morphology

• Autores: Y. Taniguchi, M. Matsumura, M. Jyumonji, Y. Kimura, M. Hiramatsu
• Localización: IEICE transactions on electronics, ISSN 0916-8524, Vol. 86, Nº 11, 2003, pág. 2275
• Idioma: inglés
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