Two Dimensional Electric Field Measurement in Microstrip-Line Circuits by Coaxial-Type Probe

• Autores: J. P. Hsu, T. Hiraoka, Y. Neishi, T. Anada
• Localización: IEICE transactions on electronics, ISSN 0916-8524, Vol. 88, Nº 1, 2005, pág. 77
• Idioma: inglés
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