Microwave Surface Resistance Measurement Sensitivity of HTS Thin Films by Microstripline Resonator at FUndamental and Higher Resonant Modes

• Autores: N. Kataria, M. Misra
• Localización: IEICE transactions on electronics, ISSN 0916-8524, Vol. 85, Nº 3, 2002, págs. 696-699
• Idioma: inglés
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