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Efficient Application of Hot-Carrier Reliability Simulation to Delay Library Screening for Reliability of Logic Designs
Autores:
H. Sato
Localización:
IEICE transactions on electronics
,
ISSN
0916-8524,
Vol. 86, Nº 5, 2003
,
págs.
842-849
Idioma:
inglés
Texto completo no disponible
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