Progress on Charge Distribution in Multiply-Stacked Si Quantum Dots/SiO 2 Structure as Evaluated by AFM/KFM

• Autores: K. Makihara
• Localización: IEICE transactions on electronics, ISSN 0916-8524, Vol. 91, Nº 5, 2008, págs. 712-715
• Idioma: inglés
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