Concise Modeling of Transistor Variations in an LSI Chip and Its Application to SRAM Cell Sensitivity Analysis

• Autores: M. Aoki, S. Ohkawa, H. Masuda
• Localización: IEICE transactions on electronics, ISSN 0916-8524, Vol. 91, Nº 4, 2008, págs. 647-654
• Idioma: inglés
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