Highly Reliable Submicron InP-Based HBTs with over 300-GHz ft

• Autores: N. Kashio
• Localización: IEICE transactions on electronics, ISSN 0916-8524, Vol. 91, Nº 7, 2008, págs. 1084-1090
• Idioma: inglés
• Texto completo no disponible (Saber más ...)