Architectural-Level Soft-Error Modeling for Estimating Reliability of Computer Systems

• Autores: M. Sugihara, T. Ishihara, K. Murakami
• Localización: IEICE transactions on electronics, ISSN 0916-8524, Vol. 90, Nº 10, 2007, págs. 1983-1991
• Idioma: inglés
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