A Reliable 1T1C FeRAM Using a Thermal History Tracking 2T2C Dual Reference Level Technique for a Smart Card Application Chip

• Autores: S. Kawashima
• Localización: IEICE transactions on electronics, ISSN 0916-8524, Vol. 90, Nº 10, 2007, págs. 1941-1948
• Idioma: inglés
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