Circuit Performance Degradation of Switched-Capacitor Circuit with Bootstrapped Technique due to Gate-Oxide Overstress in a 130-nm CMOS Process

• Autores: J. Chen, M. Ker
• Localización: IEICE transactions on electronics, ISSN 0916-8524, Vol. 91, Nº 3, 2008, págs. 378-384
• Idioma: inglés
• Texto completo no disponible (Saber más ...)