RFCV Test Structure Design for a Selected Frequency Range

• Autores: S. Decoutere, F. Cubaynes, W. Jeamsaksiri, A. Mercha, J. Ramos
• Localización: IEICE transactions on electronics, ISSN 0916-8524, Vol. 88, Nº 5, 2005, pág. 817
• Idioma: inglés
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