RF MOSFET Characterization by Four-Port Measurement

• Autores: H. C. Tseng, S. D. Wu, G. W. Huang, K. M. Chen
• Localización: IEICE transactions on electronics, ISSN 0916-8524, Vol. 88, Nº 5, 2005, pág. 851
• Idioma: inglés
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