Plasma Instability and Terahertz Generation in HEMTs Due to Electron Transit-Time Effect

• Autores: V. Ryzhii, A. Satou, M. S. Shur
• Localización: IEICE transactions on electronics, ISSN 0916-8524, Vol. 89, Nº 7, 2006, pág. 1012
• Idioma: inglés
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