Low Frequency Equivalent Circuit of Dual TEM Cell for Shielding Material Measurement

• Autores: Atsuhiro Nishikata, Ryusuke Saito, Yukio Yamanaka
• Localización: IEICE transactions on electronics, ISSN 0916-8524, Vol. 89, Nº 1, 2006, págs. 44-50
• Idioma: inglés
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