Decananometer Surrounding Gate Transistor (SGT) Scalability by Using an Intrinsically-Doped Body and Gate Work Function Engineering

• Autores: H. Sakuraba, F. Masuoka, Y. Yamamoto, T. Hidaka, H. Nakamura
• Localización: IEICE transactions on electronics, ISSN 0916-8524, Vol. 89, Nº 4, 2006, pág. 560
• Idioma: inglés
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