Defect Level Prediction Using Multi-Model Fault Coverage

• Autores: Shyue Kung Lu
• Localización: IEICE transactions on information and systems, ISSN 0916-8532, Vol. 87, Nº 6, 2004, págs. 1488-1495
• Idioma: inglés
• Texto completo no disponible (Saber más ...)