Combined Self-Test of Analog Portion and ADCs in Integrated Mixed-Signal Circuits

• Autores: G. Hu, H. Wang, Sung Bong Yang
• Localización: IEICE transactions on information and systems, ISSN 0916-8532, Vol. 91, Nº 8, 2008, págs. 2134-2140
• Idioma: inglés
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