A Two-Stage Point Pattern Matching Algorithm Using Ellipse Fitting and Dual Hilbert Scans

• Autores: Li Tian, Sei-ichiro Kamata
• Localización: IEICE transactions on information and systems, ISSN 0916-8532, Vol. 91, Nº 10, 2008, págs. 2477-2484
• Idioma: inglés
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