Defect detection in aluminum foil by measurement-residual-based chi-square detector.

• M. Zhai ; S. Fu ; S. Gu ; Z. Xie ; Xinbin Luo ^[1]
  1. [1] Shanghai Jiao Tong University

     Shanghai Jiao Tong University

     China

     
• Localización: International journal of advanced manufacturing technology, ISSN 0268-3768, Vol. 53, Nº. 5-8, 2011, págs. 661-668
• Idioma: inglés
• Texto completo no disponible (Saber más ...)