A Random Onset Model for Degradation of High-Reliability Systems.

• Autores: Scott Vander Wiel, Alyson Wilson, Todd Graves, Shane Reese
• Localización: Technometrics: A journal of statistics for the physical, chemical and engineering sciences, ISSN 0040-1706, Vol. 53, Nº. 2, 2011, págs. 163-172
• Idioma: inglés
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