José María Guillén Rubio, Vicente Aleixandre Campos
En este trabajo se estudia un sistema de control muestreado que presenta zona muerta por medio de su simulación analógica. Para llo se desarrollan unas unidades accesorias y externas a la calculadora analógica que permiten realizar las operaciones de muestreo que no puede realizar la calculadora de que disponemos.
La aplicación de estos elementos no se reduce solamente a la simulación analógica que realizamos aquí; son circuitos básicos de muestreo que pueden muy bien emplearse en un control en que los elementos sean principalmente de tipo electrónico.
Aparte de esta aplicación de desarrollo electrónico, se comprueba que el error que se produce por el detector deerror no lineal es pevisible y, por tanto, evitable con unos valores adecuados de los parámetros que intervienen en el proceso.
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