Microscopía de barrido con muestreo espacial del plano del detector

• Autores: Emilio Sánchez-Ortiga, Genaro Saavedra, Colin Sheppard, Ana Doblas, Manuel Martínez Corral, Pedro Andrés Bou
• Localización: Óptica pura y aplicada, ISSN-e 2171-8814, Vol. 46, Nº. 2, 2013 (Ejemplar dedicado a: Special: 10th Spanish National Meeting on Optics), págs. 137-146
• Idioma: español
• Títulos paralelos:
  • Scanning microscopy with spatial sampling of the detector plane
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• Resumen
  • español

    Se presenta la implementación de un microscopio confocal de barrido en el cual se emplea como detector una cámara CCD. Este tipo de detección posee numerosas ventajas con respecto a la detección típica en la microscopia confocal. Se demuestra la aplicabilidad de nuestro sistema que, al realizar un muestreo espacial de la distribución de intensidades en el plano del detector, permite llevar a cabo técnicas de aumento de la resolución tridimensional del sistema.

  • English

    We present the implementation of a confocal scanning microscope in which the signal detection is performed through a matrix sensor, specifically, a CCD camera. This kind of detection has several advantages over the conventional detection in confocal microscopes. One of those advantages is the possibility to recover information of the sample that vanishes when the confocal image is directly acquired by the integration of light into a signal. We demonstrate the applicability of the system which allows implementing super-resolution techniques in a very easy manner.