Análisis mineralógico cuantitativo por difracción de rayos X. Aplicación del método del patrón intrno "modificado" en el estudio de compuestos Al2O3-Al2TiO5.

• Autores: J.F. Bartolomé
• Localización: Boletín de la Sociedad Española de Cerámica y Vidrio, ISSN 0366-3175, Vol. 35, Nº. 4, 1996, págs. 271-283
• Idioma: español
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• Resumen

  • En el presente trabajo se lleva a cabo una revisión general de los distintos métodos de análisis mineralógico cuantitativo por difracción de rayos X. Especialmente se han estudiado los métodos de Klug y Alexander y el de F.H. Chung, pues son los únicos métodos que eliminan, mediante un artificio matemático riguroso, el efecto de los coeficientes de absorción másica. También se exponen las causas de error en los métodos para la determinación cuantitativa por rayos X. Por último, se ha aplicado el método del patrón interno ''modificado" en el estudio de compuestos de AI2O3 -AI2TÍO5. Estos compuestos con una matriz de a-Al203 y una fase dispersa de ß-Al2Ti05, se han obtenido mediante sinterización y reacción «in situ» usando como materiales de partida mezclas de polvos de AI2O3 + TÍO2 . El titanato de aluminio se forma por reacción en estado sólido entre AI2O3 y TÍO2 alrededor de la temperatura eutectoide 1280 °C en el sistema AI2O3-TÍO2 Se ha podido comprobar que el ciclo térmico utilizado tiene una influencia determinante en la cantidad de AI2TÍO5 formado en estos compuestos.