A partir del método automático (1, 2) de caracterización piezoeléctrica compleja de resonadores con pérdidas desarrollado por nosotros se hace posible el estudio de los sobretonos del modo de resonancia en espesor de los materiales piezoeléctricos con pérdidas. Las modificaciones necesarias para la resolución del sistema de ecuaciones fuera del modo fundamental no presentan complicaciones físicas añadidas, únicamente será necesario encontrar la solución correcta de entre todas las que son posibles matemáticamente. Los resultados obtenidos a partir de las medidas en los sobretonos de la resonancia en espesor pueden ser útiles para el estudio de la dependencia con la frecuencia de las constantes complejas que determinan el comportamiento elástico, dieléctrico y piezoeléctrico de los materiales en este modo. Así como permitir una más fácil medida en aquellos resonadores que presentan picos "sucios" de resonancia o antiresonancia y que no permiten una adecuada determinación ni de la frecuencia de resonancia ni de las pérdidads mecánicas, y se ven menos influidos por sobretonos de los modos de resonancia más bajos que el modo fundamental.
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