Shell-wise oxidation of nanocrystalline silicon observed by X-ray diffraction and TEM

• Autores: Stefano Marelli, Walter Vogel, Sabina Botti, Elvio Carlino
• Localización: New journal of chemistry, ISSN 1144-0546, Vol. 22, Nº 7, 1998, págs. 749-752
• Idioma: inglés
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