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Shell-wise oxidation of nanocrystalline silicon observed by X-ray diffraction and TEM
Autores:
Stefano Marelli
, Walter Vogel, Sabina Botti, Elvio Carlino
Localización:
New journal of chemistry
,
ISSN
1144-0546,
Vol. 22, Nº 7, 1998
,
págs.
749-752
Idioma:
inglés
Texto completo no disponible
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