Resumen de Graphite thin film characterization using a simplified resonant near field scanning microwave microscope

G. López-Maldonado, N. Qureshi, O. V. Kolokoltsev, H. Vargas-Hernández, C. L. Ordóñez Romero

• español

  Presentamos una descripción del diseño de un microscopio de microondas altamente simplificado de exploración por barrido con resonador coaxial que opera en el campo cercano a 7.4 GHz configurado par ala medición de la resitencia superficial y la obtención de imágenes topogrtáficas con resolución micrométrica. El diseño de una sonda altamente estable permite la sintonizaciáon rápida de la frecuencia de resonancia mediante un sitema mecáncio, y esto hace posible una implementaciáon eficiente de la microscopía de microondas de campo cercano. Las imágenes y mediciones presentadas corresponden a una película de grafito granular no uniforme cuya resitencia superficial media concuerda con los datos reportados en la literatura.

• English

  We describe a highly simplified design for a coaxial resonant near field scanning microwave microscope operating at 7.4 GHz configured to measure surface resistance and obtain topographic images with micrometer resolution. This design for a resonant probe tip combined with a highly stable mechanical system developed to rapidly tune the resonant frequency enables a simplified and effective approach to implementing near field microwave microscopy. We present images and measurements performed on a non-uniform granular graphite film sample and the surface resistance results agree with data in the literature.