Sampling Program Inputs with Mutation Analysis: Going Beyond Combinatorial Interaction Testing

• Autores: Papadakis Papadakis, Christopher Henard, Pierre Yves Le Traon
• Localización: IEEE Seventh International Conference on Software Testing, Verification and Validation. 31 March�4 April 2014 Cleveland, Ohio, USA / coord. por Brian P. Robinson, Claes Wohlin, Laurie Williams, 2014, ISBN 9780769551852, págs. 1-10
• Idioma: inglés
• Texto completo no disponible (Saber más ...)