Chain-deferred [ChDF (c1, c2)]: Two-phase inspection

• Gauri Shankar ^[1] ; A.K. Sahu ^[1] ; T.K. Chandraker ^[1]
  1. [1] Pandit Ravishankar Shukla University

     Pandit Ravishankar Shukla University

     India

     
• Localización: Quality control and applied statistics, ISSN 0033-5207, Vol. 48, Nº. 2, 2003, págs. 125-126
• Idioma: inglés
• Texto completo no disponible (Saber más ...)